电镀层膜厚仪供应

电镀膜厚仪是一种特定的镀层表面金属膜厚度测测试仪器，独特的上照式设计满足各种形状和规格的样品的测试，30秒的测试速度满足工厂大量的样品分析和检测。

电镀简单的说就是将接受电镀的部件浸于含有被沉积金属化合物的水溶液中,以电流通过镀液,使电镀金属析出并沉积在部件上。因为用途和材料不同，一般的电镀有镀锌、镀金、镀银、镀铬、镀锡、镀镍和镀铜镍合金等，根据需要镀层又分为一层、二层和多层电镀等。从技术方便来话，电镀的镀层不仅仅要平整还要均匀，而对电镀的镀层厚度要求也要精确，比如电镀金，镀的太厚，电镀厂家的成本就要增加，而镀的薄了，又可能满足不了客户的需求，所以电镀的膜厚测量也是电镀技术能力和成本的一个重要指标。

专业提供电镀镀层膜厚仪Thick 800A，解决客户镀层膜厚测量的难题

利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。针对检测样本的不同种类，可在下列3种型号中进行选择。测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号，能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号，适合对陶瓷芯片电极部分中，过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号。

兼顾易操作性与安全性
放大了开口，同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性，并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险，让用户放心使用。

检测部位可见
通过设置大型观察窗、修改部件布局，使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。

清晰的样本图像
使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头，采用全数码变焦，从而消除位置偏差，可以清晰地观察数十μm的微小样本。
另外，亦采用LED作为样本观察灯，无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。

电镀层膜厚仪Thick800A:

测量元素：原子序数13（Al）～92（U）
X射线源：管电压：45 kV
FT150：Mo靶 FT150h：W靶 FT150L：Mo靶
检测器：Si半导体检测器（SDD）（无需液氮）
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

产品优势：

采用非真空样品腔；专业用于PCB镀层厚度，金属电镀镀层分析；可同时分析镀层中的合金成分比列；多镀层，1～5层；

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供应名称：	电镀层膜厚仪	产地：	昆山
规格：	Si-Pin半导体，上照式，自动定位	单价：	价格面议
最小起订量：	0	供应总量：	充足
阀财通指数：	25	工商注册信息：	已通过阀门网认证