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天瑞thic800a上照式鼠标定位X射线荧光测厚仪

天瑞thic800a上照式鼠标定位X射线荧光测厚仪
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供应名称: 天瑞thic800a上照式鼠标定位X射线荧光测厚仪 产地: 江苏昆山
规格: 上照式,三维平台 单价: 价格面议
最小起订量: 0 供应总量: 充足
阀财通指数: 25 工商注册信息: 已通过阀门网认证
上照式x射线荧光测厚仪是天瑞仪器的核心产品,对5层以内的金属镀层进行厚度分析,通过鼠标点击样品位置实现自动测试功能
天瑞thic800a上照式鼠标定位X射线荧光测厚仪是检测5层以内,50微米以内的金属厚度。
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

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