X-ray荧光测厚仪的简单介绍

X-ray荧光测厚仪的详细信息

X-ray荧光镀层测厚仪介绍：

被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量或厚度。

X-ray测厚仪采用上照式设计,符合电镀产品的特点,满足不规则样品的测试.

X-ray测厚仪应用领域：

五金电镀厚度检测，

首饰电镀贵金属厚度检测，

电子连接件表层厚度检测，

电镀液含量分析。

电力行业高压开关柜用铜镀银件厚度检测，

铜镀锡件厚度检测，航空材料金属镀层厚度检测。

铜箔镀层厚度检测，光伏行业焊带铜镀锡铅合金厚度检测，

铁镀铬 镀锌 镀镍厚度检测等。

产品计量：

售后服务：

X-ray测厚仪专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器，已经成为电力行业，PCB行业，贵金属首饰行业的镀层分析的常规手段，比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析精度，也比切片法具有更快的分析效率测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种先进的分析方法，方便满足不同客户不同样品的测试需要。