XRF镀层测厚仪的简单介绍
XRF镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
XRF镀层测厚仪的详细信息
天瑞仪器有限公司生产的XRF镀层测厚仪在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用: (1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析; (2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否超标。 同时具有以下特点 快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。 方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上最先进的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。 无损:测试前后,样品无任何形式的变化。 直观:实时谱图,可直观显示元素含量。 测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。 可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。 满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。 性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。 简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。 产品图片: 测试实例 镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。 以下使用XRF镀层测厚仪Thick800A对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行精确定位测试,其测试位置如图。 铜镀镍件X射线荧光测试谱图 样 品 名 | 成分Ni(%) | 镀层Ni(um) | 吊扣 | 100 | 19.321 | 吊扣2# | 100 | 19.665 | 吊扣3# | 100 | 18.846 | 吊扣4# | 100 | 19.302 | 吊扣5# | 100 | 18.971 | 吊扣6# | 100 | 19.031 | 吊扣7# | 100 | 19.146 | 平均值 | 100 | 19.18314 | 标准偏差 | 0 | 0.273409 | 相对标准偏差 | 0 | 1.425257 |
铜镀镍件测试值 结论 实验表明,使用XRF镀层测厚仪对镀件膜厚测试,结果准确度高,速度快(几十秒),其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。 售后服务: 天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商,一直以来严格遵循“360°优质服务”的客户服务理念,以提高顾客满意度为根本目标,从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供全方位的优质服务。 我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、回访、巡检等全过程、全方位、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务,更为客户创造了更高的价值。 “快速、准确、到位”的服务 最短交货时间 最快安装 最短维修周期 最长保修期 最个性化服务 最低维护费用
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