Thick-900系列X荧光镀层测厚仪的简单介绍

Thick-900系列X荧光镀层测厚仪的详细信息

仪器介绍

Thick900是精谱集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软伯操作，可多点测试。

性能特点

Thick-900A型X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，

有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

高精度移动平台可精确定位测试点，重得定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

技术指标

型号：Thick900

元素分析范围从硫(S)到铀（U）

同时可以分析30种以上元素，可达到5层镀层。

检出限可达到2ppm，最薄可测试0.005μm

分析含量一般为ppm到99.9％

相互独立的基体效应校正模型。

多次测量重复性可达0.1％

长期工作稳定性可达0.1％

进采用美国原装、国际先进的探测器，能量分辨率高。

采用美国原装、国际先进的AMP，处理速度快，精度高，稳定可靠。

X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。

采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品。

采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便。

采用双激光对焦系统，准确定位测量位置。