天瑞重金属膜厚仪 电镀层测厚成分分析 X荧光光谱仪的简单介绍天瑞重金属膜厚仪 电镀层测厚成分分析 X荧光光谱仪双激光定位和保护系统 , 实现对平面 、 凹凸 、 拐角 、 弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析。天瑞重金属膜厚仪 电镀层测厚成分分析 X荧光光谱仪的详细信息X荧光膜厚测量技术,专门研发的一款上照式膜厚测试仪。相比于传统的镀层测厚设备,不仅在常规的传统电镀上表现更加优异,更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方,通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动 , 双激光定位和保护系统 , 实现对平面 、 凹凸 、 拐角 、 弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析。
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