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详细信息
XRF镀层膜厚仪的简单介绍XRF镀层膜厚仪就是利用XRF荧光光谱仪对金属镀层的厚度检测的设备，金属镀层测厚仪XRF具有快速测试，操作简单，测试结果准确等优势，是电镀加工及下游企业的质量管控的有效分析手段。XRF镀层膜厚仪的详细信息提示：以下模板中任意文字及图片均可执行修改、删除的操作，更多产品描述有助于增加产品对买家的吸引力及搜索曝光率。
金属镀层测厚仪XRF膜厚仪基本介绍
(产品的基本描述，如定义、功能等)
EDX2000A是天瑞仪器研发生产的一款性能更佳，配置更好的一款XRF镀层膜厚仪器。 
金属镀层测厚仪XRF膜厚仪性能特点
(除基本功能外的其它特质，例如工作时长、操作简便性等)
超高硬件配置
采用Fast-SDD探测器,高达129eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。 搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。 高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。 设计亮点 上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，满足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。 
金属镀层测厚仪XRF膜厚仪技术参数
(例如材质、工艺、尺寸的技术标准等)
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。 分析含量一般为ppm到99.9% 。 镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序 温度适应范围为15℃至30℃。 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 
金属镀层测厚仪XRF膜厚仪原理
通过X射线激发各种物质（如Mo、Ag、Mn）的特征X射线，然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片（或者对比样）对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加。
 江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本49551.1725万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司、四川天瑞环境科技有限公司、河南省天瑞环境科技有限公司、厦门质谱仪器仪表有限公司、苏州智慧天瑞环保科技有限公司、湖北天之瑞智海创新研究院有限公司九家全资子公司和江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全资源化有限公司、雅安天瑞水务有限公司、安岳天瑞水务有限公司五家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
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