膜厚测试仪LS221测量金属基体表面涂层厚度

金属表面膜厚不仅仅只是让金属外观令人赏心悦目，更重要的是防锈，防腐蚀。除去外力作用原因，金属膜厚损坏或不平的很大一部分原因是因为包装材料厚度不均匀，导致金属涂层受损，对使用产生影响，而我们却无法仅凭借肉眼去感知金属涂层的优劣和效果，这时就需要借助精准的测量仪器—膜厚测试仪（https://www.linshangtech.cn/tech/tech1400.html）来进行准确的测量了。

测量金属基体表面的涂层厚度建议使用林上LS221膜厚测试仪是相对比较靠谱的，我们知道金属从大类可以分为两部分磁性金属和非磁性金属。这时就需要选择磁性测厚法与涡流测厚法测测量原理的膜厚测试仪了，虽然超声波测量原理的膜厚测试仪也可以用来测量金属基体表面的涂层厚度，但是测量精度是远远没有磁性法与涡流法测厚仪靠谱的。林上LS221膜厚测试仪是一个不错的选择，具体参数如下：

测量原理 Fe：霍尔效应/NFe：电涡流效应

探头类型 外置连线式

测量范围 0.0-2000μm

分辨率 0.1μm：(0μm-99.9μm)

1μm：(100μm-999μm)

0.01mm：(1.00mm-2.00mm)

测量精度 ≤±(3%读数+2μm)

测量间隔 0.5s

测量区域 Ø = 25mm

曲率半径 凸面：5mm 凹面：25mm

基体厚度 Fe：0.2mm/NFe：0.05mm

供电方式 2节 1.5V AAA碱性电池

存储温度范围 -20℃～60℃

探头尺寸 71*26*22 mm

重量(含电池) 114g

膜厚测试仪采用软芯上绕着线圈的探头放在被探测物上，仪器自动输出测试电流或测试信号，早期产品使用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后指示涂层厚度，新型仪器引入稳频、锁相、温度补偿等新技术，利用磁阻来调制测量信号，采用集成电路、引入微处理机，使测量精度和重复性有了大幅度的提高。