x荧光镀层测厚仪

X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息。通过的x射线荧光信号的分析，可以测表面电镀的金属层的光谱强度，从而得出镀层的厚度。

X荧光镀层测厚仪仪系列在电镀检测行业中， 针对上述五项需求的应用：

(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析；
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否超标。
同时具有以下特点
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种先进的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

1、仪器尺寸：

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊测试时，可开盖，对样品长度无限制

检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。

样品台尺寸：230(W)×210(D)mm

移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm

Z轴升降平台升降范围：0-140mm

4、X射线光管：

管压：5-50kV

管流：0-1mA

靶材：W靶

窗口：铍窗

制冷方式：风冷

工作温度：≤75℃

5、高压发生器：

输入电压：24V

输入电流：5A

管压：0-50kV

管流：0-2mA

灯丝电压：5V

灯丝电流：3.5A

6、MCA多道分析器

±12V，+5V

采样频率：100 KHZ

脉冲幅度：0-7.6V

A/D位数：12位

分析道数：2048道

7、准直器系统：

准直器：Ø0.1 mm

滤光片：Mo

传感器类型：CCD（彩色）

接口：USB2.0

传感器厂商：索尼

快门类型：面阵

光学尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：

感应度：0.58V（索尼标准）

颜色排列：RGB

帧率：30fps

快门速度：1/1538-1/30（秒）