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X荧光光谱合金分析仪

X荧光光谱合金分析仪
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供应名称: X荧光光谱合金分析仪 产地: 昆山
规格: 25mm探测技术 单价: 价格面议
最小起订量: 0 供应总量: 充足
阀财通指数: 25 工商注册信息: 已通过阀门网认证
X荧光光谱合金分析仪是检测国家标准铜及合金中主成份和杂质元素的分析方法,利用XRF原理解决复杂物质化学分析是X荧光光谱仪的基本功能。
X荧光光谱仪在铜合金分析检测方面的应用方案
X荧光光谱合金分析仪用于各种金属材料中各种化学元素的精确成分分析。用于原材料检验,冶炼生产过程成分控制,成品元素成分定值及其它特殊应用,以检测铜合金的炉前快速分析和成品分析,控制铜合金中的各成分含量,从而在满足客户的技术要求下控制铜的含量以降低生产成本。

X荧光技术的主要特征为:利用低能量X射线照射测试样品,试样中的一些原子将发射具用自身特征X射线荧光,从而识别这些元素,同时无损检测其含量。天瑞仪器光谱仪采用现代最先进的角度照射及准直器和滤光片自动组合系统,实现了分析光谱的全谱分析。特殊设计的激发光源,使金属材料的成份分析进入了一个新的时代。卓越的分析性能、极短的分析时间、极低的运行维护成本、智能化的操作模式,使样品分析简单易行。可以广泛适用于铜合金、铝合金、锌合金、镍合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。天瑞仪器EDX3600B是当今金属分析的最佳选择,同时可以轻松面对未来分析的更高要求,不添加任何硬件设施,即可升级分析功能,方便灵活地随生产发展的需要增加分析的元素及合金种类。
EDX4500X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类更准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量最薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
精准的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析

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